@黑暗中的堅持:
最(zui)新消(xiao)息面(mian):IT之家 3 月 4 日消(xiao)息,據(ju) TheElec,三星(xing)正(zheng)在考慮在其下一代(dai) DRAM 中應用模壓填充(MUF)技術(shu)。三星(xing)最(zui)近測(ce)試(shi)了一種用于(yu) 3D 堆棧(zhan) (3DS) 內存的(de) MR MUF 工藝(yi),與(yu) TC NCF 相其吞(tun)吐量有所提升,但物理(li)特性卻出(chu)現了一定惡化(hua)。經過測(ce)試(shi),該(gai)公(gong)司得出(chu)結論,MUF
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